随着我国集成电路工业的快速发展,集成电路芯片的应用也日益广泛,运算放大器是各种电路设计中经常用到的集成电路芯片,芯片制造厂商在芯片出厂之前如何确保送到用户手中的芯片是合格的,最重要的一个环节就是对其进行测试,为确保运算放大器的各项参数指标符合硬件电路设计中器件的选型标准,论文研究了一种便携式的运算放大器综合参数测试仪。论文采用STM32作为主控制单元实现测试仪系统复杂控制功能,搭载AD7606和TFT液晶显示屏完成数据采集和测试结果显示,用户可实时读取数据,降低了设计成本。采用CPLD作为辅助控制单元实现组合逻辑电路驱动继电器通断的方案设计了综合参数测试模块和运放类型选择模块,实现测试参数和运放类型的选择。提出了一种辅助运放的测试方法,可实现针对于单运放、双运放和四运放等不同类型的运算放大器完成输入失调电压、输入失调电流等13种综合参数的自动化、循环测试。各模块通过总线连接方式进行通信,具有可扩展性,方便用户二次开发,实现便携式。将测量值与已有测试平台参考值进行比较分析,测量误差小于3%,测量数据表明,测试仪精度高,测试参数及测试对象类型涉及广泛,测试效率高,对集成电路测试企业以及高校开展集成电路测试相关实验课程等具有很好的推动作用。