本文主要研究不同热历史，包括升温和降温，对微米级BaTiO3陶瓷四方相内耗及铁电性质的影响。 　　所用微米级BaTiO3陶瓷试样是用传统的固相烧结法制备的。利用动态力学分析仪(DMA)的强迫弯曲振动法，对BaTiO3陶瓷试样进行了低频内耗测试。在内耗和模量温度曲线上除了观察到BaTiO3相变引起的内耗峰和模量极小外，还在BaTiO3的四方相温区观察到峰高约为0.1量级的十分明显的弛豫内耗峰，而且不同热历史、特别是升温和降温测量对BaTiO3陶瓷四方相弛豫内耗峰的影响十分强烈，其弛豫激活能可相差一倍。 　　对微米级BaTiO3陶瓷试样进行了介电测试。在180K-410K范围内的升、降温过程中均观测到相变处典型的介电相变峰和四方相中的介电损耗峰。不同热历史的试样在升温或降温过程中的四方相损耗峰的弛豫激活能相同，可见热历史对介电弛豫激活能基本没有影响；但升温过程同降温过程的介电弛豫激活能却具有明显的差别。此外，热历史和升降温还明显地影响介电常数ε值的大小。铁电材料的力学损耗和介电损耗与材料中存在的点缺陷有关，后者还与电畴的运动有关。 　　本文初步探讨了纳米级BaTiO3陶瓷中与氧缺位有关的弛豫内耗峰的情况，并做了相应的介电测试。得出了部分与微米级BaTiO3陶瓷试样一致的结论。这部分工作还有待于从实验和理论上做进一步的研究。