现场可编程门阵列(FPGA)器件能通过对其进行编程实现具有用户规定功能的电路，因而特别适合集成电路的新晶开发和小批量ASIC电路的生产。近几年来，FPGA的发展非常迅速，在计算机、通信和图象处理等领域得到了广泛的应用。随着FPGA的发展，测试FPGA的有关技术也得到了相应的发展，出现了不少有关FPGA的测试方面的文献。而FPGA的故障大多数是由FPGA连线资源的故障引起的，所以对于FPGA连线资源部分的测试和诊断具有重要意义。随着对FPGA测试技术的发展，出现了很多关于这方面的文章和讨论，并且提出了一些诊断和测试的方法。 本文概述了已有FPGA连线结构的一些测试技术，结合以前的FPGA的诊断与测试技术，提出了通过讨论开关矩阵及其连线的一个可行的测试及诊断方法，由七个测试阶段，分别讨论了FPGA开关矩阵中各开关与相关连线的各种可能发生故障的情况，通过施加相应的测试信号序列来对连线资源的故障情况进行较完全的测试。并着重说明了所有单故障和多故障的具体情况及适用的诊断策略。