【摘 要】
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分析了影响VSM精确测量高密度硬盘介质磁基本特性参数的几个因素--仪器定标、检测线圈安装位置、锁相放大的时间常数、外加磁场的扫描周期、盘基衬底噪声和退磁场等,在综合考
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分析了影响VSM精确测量高密度硬盘介质磁基本特性参数的几个因素--仪器定标、检测线圈安装位置、锁相放大的时间常数、外加磁场的扫描周期、盘基衬底噪声和退磁场等,在综合考虑并消除诸因素的影响后,使自制高密度硬盘盘片介质的磁基本特性参数获得了较高精度,通过本VSM测试系统,得到磁记录介质的平滑磁滞回线,通过多次测量,由磁滞回线计算的磁基本特性参数相对误差小于1%.
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