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边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构，并以PC机作为平台，利用边界扫描技术对某飞控计算机系统中的CPU电路板进行测试，实现了该电路板的可测性设计，体现了边界扫描技术对于芯片互连故障测试检验效率高，控制简单方便，易于实现的优越性。