论文部分内容阅读
主要对质子单粒子闩锁（SEL）的影响因素进行了分析，首先介绍了质子SEL原理，然后对电路质子SEL有重要影响的四个影响因素-封装、新材料的应用、质子能量和质子入射方向进行了详细分析。分析结果表明，要研究最坏情况下地球辐射带中质子SEL，需要在较高环境温度情况下（一般取125℃），使用能量大于400MeV的质子在斜入射和垂直入射时对SEL进行同时研究。