PMD光学元件面形测量中的镜头畸变校正研究

来源 :光学与光电技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：pingzidege

【摘要】

：

相位测量偏折术(PMD)是近几年在光学测量领域内普遍使用的一种非接触式的高精度测量方法,该方法需要CCD相机拍摄经被测光学元件反射的在显示屏上显示的条纹图,而CCD自身存在的镜头畸变会对测量精度产生一定的影响。为避免这一影响,提出了在梯形畸变和镜头畸变同时存在的情况下保留梯形形状而只校正镜头畸变的矢量Zernike多项式校正方法。该方法首先利用光轴与被拍摄面的交点及相机和被拍摄面的相对位置来求取与

【作者】

：

王雪敏李大海鄂可伟李萌阳秦双

【机构】

：

四川大学电子信息学院,四川成都610065

【出处】

：

光学与光电技术

【发表日期】

：

2016年12期

【关键词】

：

相位测量偏折术镜头畸变畸变校正矢量Zernike多项式 phase measuring deflectometry lens distortion dis

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