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化学-机械协同效应相关论文
半导体芯片化学机械抛光过程中材料去除机理研究进展
就国内外关于集成电路芯片化学机械抛光(CMP)材料去除机理研究的现状和进展进行了评述,总结了集成电路芯片常用介电材料二氧化硅以......
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