测试访问机制相关论文
为解决如何以低面积开销为系统芯片(SoC)构建透明路径测试访问机制从而有效进行测试复用的问题,提出了SoC级透明路径构建方法,将透......
在对SOC测试时，SOC测试结构的核心部分是测试访问机制（TAM）和测试调度控制器．文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器．用......
深亚微米技术的应用以及芯核的嵌入性特点，使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要，1EEEStd1500针对此问题提出了芯核的可测试性......
分析了芯片级测试的特点以及与传统板级测试区别,对SOC测试结构的核心部分测试访问机制(TAM)和Wrapper进行了详细的论述,分析了系......
本文提出了一种SOC互联总线测试完整性故障的结构优化方法,本方法是在功耗限制下通过分配TAM使测试时间最小,从而优化了系统测试结......
随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计......
为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间，提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法。在该方法中，建立了最......
构建了一个具有结构和功能信息的研究环境,供与SoC测试集成相关的研究使用.该环境是一个包含典型功能模块和可测性设计(design for......
大量IP核复用于SoC中，给IP核的测试复用带来困难。该文给出一种基于透明路径的测试访问机制构建方法，对PARWAN处理器构建透明路径。......
讨论了IEEE P1500测试架构，详细分析并实现了IP核的测试环（Wrapper）结构，给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构。该结构能控制基......
由于现有TAM（Test Access Mechanism）结构中，被测IP（Intellectual Property）核都是固定地连接在某些TAM总线上，经常会导致测试资源浪费，故......
提出了一种NoC测试端口位置和数量的优化选取的方法,它在系统功耗限制的条件下,确定input/output端口的对数,以所有核测试路径总和......
提出了一种确定性的片上系统（SOC）测试调度算法．在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上，构造了包含4种序列对递增生成方法的循环迭......
随着现代半导体技术的发展，将整个系统集成在一个芯片上成为可能．但系统集成芯片SOC的测试也成为一项越来越艰巨的工作。文章采用一......
提出了一种基于片上微处理器和透明路径测试访问的SOC自测试方案。以片上微处理器为测试加载和响应收集比较的主体，构造透明路径并......
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷，将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中．建立以测试时间和测......
微电子技术的迅速发展促进了系统芯片(SOC)的出现,并由此将集成电路带入了一个新的发展时期。由于SOC采用的是以复用IP芯核为主的......
三维芯片设计通过垂直集成大大提升了芯片的集成度，成为当前半导体产业发展最快的技术之一，被认为是一种延续摩尔定律增长趋势的新方......
为缩短SoC的测试时间并减少测试硬件开销,提出一种高性能SoC测试结构.通过重用存储控制逻辑作为测试接口,可以消除传统双向测试总......
提出了一种在功耗及测试并行性约束下三维片上系统(System on Chip,SoC)绑定中测试阶段并行测试的优化策略,通过最大限度地利用测......
如今随着CMOS技术的迅速发展,集成电路的集成度越来越高,摩尔定律已经进入了一个瓶颈时期。基于硅通孔连接的三维集成电路,凭借其......
随着集成电路工艺的发展,以IP(Intellectual Property)核复用技术为支撑的片上系统SOC(System-On-Chip)技术正得到飞速发展。SOC测......
本文针对面向SOC测试中的BIST设计功耗与时间优化、测试访问结构和核测试包封结构优化以及高层次可测性设计优化等问题，进行了深入......
随着微电子工艺技术和设计方法的发展,系统级芯片(SOC)设计成为解决日益增长的设计复杂度的主要方法。文章概述了SOC设计方法学和S......
基于NoC系统内嵌IP核测试所采用的主流方案是复用NoC自身通信链路作为测试访问通路，以实现测试数据的传输。但是传统的NoC系统是针......
SOC系统芯片的设计面临着诸多挑战，其中测试复用问题就是非常棘手的挑战之一，甚至已经称为SOC发展的瓶颈。因此在设计阶段考虑测试问......
随着SOC系统设计规模的日趋复杂,SOC的测试由于系统集成了多个不同的IP核而变得愈加困难,已经逐渐成为SOC发展的瓶颈。以核测试复......
集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展使得SOC得到越来越广泛的应用.随着系统设计规模的日益复杂,SOC的测试由于系统集成......
